파장 25mmFL 1-3μm SWIR 적외선 렌즈 (SWIR 이미징용)

파장 25mmFL 1-3μm SWIR 적외선 렌즈 (SWIR 이미징용)

SWIR 렌즈

단파 적외선(SWIR) 파장대는 가시광선 및 기타 열 대역에 비해 독특한 이미징 이점을 제공합니다. 전자 회로 기판 검사, 재료/식품 분류, 태양 전지 검사, 품질 검사 및 군사 분야 등 산업용 머신 비전에서 점차 그 활용도가 높아지고 있습니다. SWIR 렌즈는 다른 검출기나 카메라가 미세한 디테일을 인식하기에 감도가 부족한 영역에서 사용됩니다.

인프라-SW253.0-17

명세서

초점 거리

25mm

에프/#

3.0

원형 시야각

47°(D)

스펙트럼 범위

1.5-5um(SWIR)

초점 유형

수동 초점

후면 초점 거리

39.4mm

마운트 유형

총검

탐지기

1024X768-17um


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  • 제품 상세 정보

    제품 태그

    SWIR 렌즈

    단파 적외선(SWIR) 파장대는 가시광선 및 기타 열 대역에 비해 독특한 이미징 이점을 제공합니다. 전자 회로 기판 검사, 재료/식품 분류, 태양 전지 검사, 품질 검사 및 군사 분야 등 산업용 머신 비전에서 점차 그 활용도가 높아지고 있습니다. SWIR 렌즈는 다른 검출기나 카메라가 미세한 디테일을 인식하기에 감도가 부족한 영역에서 사용됩니다.

    인프라-SW253.0-17

    명세서

    초점 거리

    25mm

    에프/#

    3.0

    원형 시야각

    47°(D)

    스펙트럼 범위

    1.5-5um(SWIR)

    초점 유형

    수동 초점

    후면 초점 거리

    39.4mm

    마운트 유형

    총검

    탐지기

    1024X768-17um






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