현장 분석기 제품 소개_

제품 기능

Light Research Technology에서 자체 개발한 스팟 분석기는 레이저 스팟 검출 및 테스트 애플리케이션에 적용 가능합니다. 고객 맞춤형 빔 품질 분석 통합 설계 솔루션을 제공하고 다양한 애플리케이션 개발을 지원합니다. 빔 분석 장치와 감쇠 방식의 통합 설계를 통해 직경 40μm의 미세한 광점까지 측정 가능하며, 실시간 노출 및 게인 조정을 지원합니다. 이 시스템은 연속적인 가시광선 레이저 스팟을 샘플링하여 레이저 스팟의 중심, 반경, 타원 비율 등을 분석하고 2차원 및 3차원 광 강도 에너지 분포를 표시할 수 있습니다. 레이저 생산, 유지 보수 및 레이저 응용 분야 등 레이저 스팟 형상 검출이 필요한 다양한 상황에서 활용 가능합니다. 또한 광학 장치 품질 검사, 레이저 공진기 미러 조정, 외부 광경로 정렬, 광섬유 정렬 결합 분석 등에도 널리 사용됩니다. 현재 높은 가성비를 자랑하는 성숙한 제품으로 시장에 출시되어 많은 고객들에게 인정받고 있습니다.

제품 사양

하드웨어 작동

소프트웨어 기능

소프트웨어 작동