SWIR 적외선 렌즈 고정 초점

SWIR 적외선 렌즈 고정 초점

인프라-SW253.0-17


제품 상세 정보

제품 태그

제품 정보:

대기 흡수로 인해 적외선 스펙트럼의 특정 영역에서만 빛이 공기를 통과하여 적외선 용도로 사용될 수 있습니다.단파 적외선(SWIR)이라고 불리는 1μm~3μm 스펙트럼 영역의 적외선은 그 중 하나입니다.SWIR 스펙트럼의 빛은 사람의 눈에는 보이지 않지만 여전히 물체와 상호 작용합니다.따라서 SWIR 이미징 애플리케이션에서는 물체의 이미지를 캡처하고 시각적 범위에서 볼 수 없었던 측면을 볼 수 있습니다.

단파 적외선 렌즈는 SWIR 이미징 시스템에서 매우 중요한 구성 요소입니다.사람의 눈과 같은 역할을 합니다.좋은 SWIR 렌즈가 없으면 시스템에서 선명한 시야를 확보할 수 없습니다.SWIR 렌즈는 물, 플라스틱, 실리콘 및 유기 화합물을 투과하는 데 사용할 수 있습니다.가시광선 및 기타 열 밴드에 비해 고유한 이미징 이점을 제공하는 이 제품은 재료/식품 분류, 전자 보드 검사, 웨이퍼 검사, 품질 검사 및 군사 응용 분야를 위한 산업용 머신 비전에서 점점 더 큰 자리를 차지하고 있습니다.

Wavelength Infrared는 회절 제한에 가까운 성능을 제공하는 SWIR 렌즈를 제공합니다.우리의 모든 렌즈는 최고의 품질을 보장하기 위해 엄격한 광학/기계적 성능 및 환경 테스트를 거칩니다.

표준 고효율 AR 코팅 외에도 외부 표면에 DLC 코팅이나 HD 코팅을 적용하여 바람과 모래, 높은 습도, 염분 안개 등과 같은 환경적 손상으로부터 렌즈를 보호할 수도 있습니다.

대표적인 제품

25mm FL, F#3.0, 1024x768-17um SWIR 센서용, 고정 초점

SW253.0-17
개요 도면

명세서:

단파 적외선 검출기(1-3um)에 적용

인프라-SW253.0-17

초점 거리

25mm

에프/#

3.0

원형 FOV

47°(D)

스펙트럼 범위

1-3um

초점 유형

수동 초점

BFL

39.4mm

마운트 유형

총검

탐지기

1024x768-17um

상품 목록

단파장 적외선 렌즈

EFL(mm)

F#

시야

파장

초점 유형

BFD(mm)

탐지기

12mm

3

54˚(D)

1.5-5um

수동 초점

39.4mm

총검

640X512-15um

23mm

2

30˚(D)

900-2300nm

수동 초점

C-마운트

C-마운트

320X256-30um

25mm

2.5

26˚(D)

900-2500nm

수동 초점

C-마운트

C-마운트

320X256-30um

25mm

3

47˚(D)

1.5-5um

수동 초점

39.4mm

총검

1024X768-17um

35mm

2

20˚(D)

900-2500nm

수동 초점

C-마운트

C-마운트

320X256-30um

35mm

2.4

20˚(D)

900-2300nm

수동 초점

C-마운트

C-마운트

320X256-30um

50mm

2

14˚(디)

900-2500nm

수동 초점

C-마운트

C-마운트

320X256-30um

50mm

2.3

24.5˚(D)

1.5-5um

수동 초점

39.4mm

총검

1024X768-17um

100mm

2.3

12.4˚(D)

1.5-5um

수동 초점

39.4mm

총검

1024X768-17um

비고:

1. 요청시 외부 표면에 AR 또는 DLC 코팅이 가능합니다.

2. 귀하의 기술 요구 사항에 맞게 이 제품에 대한 사용자 정의가 가능합니다.필요한 사양을 알려주세요.

SW0123.0-15
SW502.3-17
SW352.4-30
SW1002.3-17

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